PREMAKNITE SE NAVZDOL 
XT H 225
Nikon - CT
Detaljno zabilježavanje i mjerenje unutarnjih komponenti i sklopova je često vitalno za kontrolu kvalitete, analizu kvarova i istraživanje materijala.
Pristupačni i svestran XT H 225 sustav nudi mikrofokusni rendgen, mogućnost inspekcije malih do srednje velikih komada i visoko rezuliciju slike. Spremno za ultrabrzu CT rekonstrukciju, XT H 225 pokriva široki raspon aplikacija, uključujući inspekciju plastičnih, malih lijevanih komada i kompleksnih mehanizama kao i istraživanje materijala i prirodnih uzoraka.
Tehnični podatki
Za pravilnost tehničnih informacij ne prevzemamo nobene odgovornosti.